Ansys Lumerical|針對 Grating coupler 的仿真分析方法

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說明

本文旨在介紹 Ansys Lumerical 針對 Grating coupler 的仿真分析方法。通過設(shè)計一個光柵耦合器,將光子芯片表面的單模光纖連接到集成波導(dǎo),并使用優(yōu)化工具用于最大化耦合效率,并使用S 參數(shù)創(chuàng)建 INTERCONNECT 中的緊湊模型。



綜述



本示例的目標(biāo)是設(shè)計一個 TE 絕緣體上硅 (SOI) 耦合器,該耦合器具有布拉格光柵結(jié)構(gòu)和頂部注入的單模光纖。此設(shè)計中的關(guān)鍵品質(zhì)因數(shù) (FOM) 是目標(biāo)波長處的耦合效率。耦合效率與光柵間距 p, 蝕刻長度 le,蝕刻深度he,光纖位置 x 以及光纖傾斜角θ 都有關(guān)。



這五個參數(shù)通常一起優(yōu)化,以最大化目標(biāo)中心波長處的耦合效率。 由于具有五個參數(shù)的 3-D 優(yōu)化非常耗時,因此此處使用 2-D 和 3-D 模型的組合并僅改變?nèi)齻€幾何參數(shù)進(jìn)行兩階段優(yōu)化。 設(shè)計工作流程包括四個主要步驟。

步驟1:初始2D優(yōu)化:優(yōu)化光柵間距 p、占空比 d 和光纖位置 x

使用Lumerical “Optimizations and Sweeps” 功能,優(yōu)化完成后,最佳參數(shù)結(jié)果也將顯示在優(yōu)化狀態(tài)窗口中,如下所示:



步驟2:最終3D優(yōu)化:優(yōu)化光纖的位置 x 以最小化插入損耗

3D 優(yōu)化最佳 FOM 如下圖所示:



步驟3:S 參數(shù)提?。哼\行 S 參數(shù)掃描并將結(jié)果導(dǎo)出到數(shù)據(jù)文件

獲得的 s 參數(shù)光譜表明在目標(biāo)波長處的功率耦合效率約為 40%,如下圖所示:



步驟4:緊湊模型創(chuàng)建:將 S 參數(shù)數(shù)據(jù)導(dǎo)入Interconnect

在 INTERCONNECT 中測量的功率傳輸與步驟 3 中獲得的 s 參數(shù)功率傳輸相同。